产品型号
DLT-QC-210厂商性质
生产厂家更新时间
2024-06-25访问量
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超声波C 扫描检测系统 DLT-QC-210
产品介绍
超声扫描显微镜
超声扫描显微镜DANA-QC210 用于对材料科学，半导体行业等相应产品的内部缺陷检测，利用高速线性马达运动系统，对产品进行水浸C 扫描检测，全波列采集超声波信号，利用成像算法和数据图像处理功能，对产品内部的缺陷进行有效识别，得到内部清晰图像，并统计分析缺陷位置、形状和尺寸，生成自定义报告。
二、产品特点 FEATURES
适用产品：芯片、塑料封装IC、PCB、金属基板、晶片、半导体电子行业；Applicable products: chips, plastic packaging IC, PCB, metal substrates,
检测结果稳定性、 一致性高；
High stability and consistency of test results;
高速定位，快速成像；
High-speed positioning and fast imaging;
操作简单，使用安全，检测结果格式多样化；
Simple operation, applicable safety, flexible and varied formats of test results;
技术参数 SPECIFICATIONS
运动系统/Motion system
XY轴扫描范围/Scanning range of XY axis 300*300mm (可定制/Customizable)
扫描速度/Scanning speed 1000mm/s
重复精度/Repetition precision 1um
超声发射接收/ Ultrasonic emission and reception
工作频率范围/Operating frequency range 0.5MHz~60MHz
激励脉冲形式/Excitation pulseform 方波/Square wave
工作温度/Working temperature -10℃~+50℃
采样率/Sampling rate 100MHz, 可支持，GHz/100MHz,Support IGHz
重复频率/Repetition frequency 20khz
数据传输率/Data transfer rate 5G
采样点数/Sampling points 4K (可定制)/4K(Customizable）
增益调节/Gain adjustment -13~66dB 连续1dB 可调/- 13~66dB continuous IdB adjustable
软件功能/Software function
A、B、C、D扫描图像 界面跟踪、区域重扫
A,B,C, D scanning imaging Interface tracking, area re-scanning
多种特征成像方式/Multiple imaging methods 多种数据处理、图像处理方式
Multiple data processing and image processing methods
缺陷定位统计分析/ 数据库统计、自定义报告模板/
Statistical analysis of defect location Database statistics, customizable report template
